IGBT功率模块老化测试系统及方法[发明专利]
来源：华佗小知识
专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：IGBT功率模块老化测试系统及方法专利类型：发明专利
发明人：王君会,李达明,王帅,徐国田申请号：CN201911380465.3申请日：20191227公开号：CN111103520A公开日：20200505
摘要：本发明提供IGBT功率模块老化测试系统及方法，包括交流电抗、电流传感器和两个功率模块，所述交流电抗两端与两个功率模块的交流端连接，所述电流传感器穿过交流电抗的一端，所述电流传感器连接驱动电路，所述驱动电路连接可调直流电源，两个所述功率模块的正极相连、负极相连再分别连接可调直流电源的正极和负极，所述可调直流电源与两个功率模块的连接回路中连接有电压传感器和第一接触器，所述电压传感器连接驱动电路，所述驱动电路连接两个功率模块。该发明的有益效果是：每次对两个功率模块进行测试，若出现报警情况只需再更换其中一个功率模块，既可准确判断出老化的功率模块，测试过程为自动化进程，大大提高了IGBT功率模块的老化测试效率。
申请人：天津瑞能电气有限公司
地址：300385 天津市西青区经济开发区兴华七支路1号
国籍：CN
代理机构：天津企兴智财知识产权代理有限公司
代理人：陈雅洁
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