专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：功放测试系统专利类型：发明专利发明人：王豫,贺达,强波,杜春申请号：CN2010102509.9申请日：20100826公开号：CN101968529A公开日：20110209
摘要：本发明公开了一种功放测试系统。该功放测试系统主要由与被测功放相连的信号源和频谱仪构成，所述信号源和频谱仪均与控制计算机相连。本发明能缩短研发周期，减少研发工程师评估测试复杂度，提高操作人员和测试设备的效率，降低人为因素，对一般的人员也能正常的进行评估测试；降低时间成本、设备占用成本、人力成本。
申请人：芯通科技(成都)有限公司
地址：610000 四川省成都市高新区天府大道高新孵化园信息安全基地3、4楼
国籍：CN
更多信息请下载全文后查看
