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专利名称：分子动力学模拟中壁面边界的模拟方法专利类型：发明专利
发明人：冯洁,朱恂,王宏,吴睿,丁玉栋,廖强,叶丁丁,李俊,王永
忠
申请号：CN201010299639.6申请日：20100930公开号：CN101944151A公开日：20110112
摘要：本发明公开提出一种分子动力学模拟中壁面边界的模拟方法，该方法综合了全反射法和随机反射法优点，能够真实反应出粒子碰壁后的运动状态，也称为半反射法，其实现步骤如下：1)定义分子动力学模拟中粒子的数据结构；2)确定粒子在通道中的当前位置A(x，y，z，u，v，w)；3)根据粒子当前位置及粒子受到其它粒子的作用力信息，确定粒子的运动方向，并根据粒子当前位置及受力信息判断粒子下一步是否会运动到壁面边界以外位置；4)若粒子运动到壁面边界以外位置，经过壁面反射到达下一步反射位置B(x，y，z，u，v，w)，当x方向存在壁面，则其中y＝y’，z＝z’，x＝2*壁面x方向的坐标-x’，，，粒子的速度方向随机。本发明在模拟中可以体现出壁面恒温和壁面不光滑的物理条件；可以更加真实地反应出粒子反射后的位置；也可应用在不规则的纳米通道中，简化速度矢量的计算方法。
申请人：重庆大学
地址：400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
国籍：CN
代理机构：重庆博凯知识产权代理有限公司
代理人：张先芸
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