一种分析硅同位素组成的方法及装置[发明专利]

来源：华佗小知识

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种分析硅同位素组成的方法及装置专利类型：发明专利

发明人：高建飞,丁悌平,范昌福,胡斌申请号：CN201910044614.2申请日：20190117公开号：CN109596701A公开日：20190409

摘要：本发明涉及稳定同位素分析技术领域，具体涉及一种分析硅同位素组成的方法及装置。本发明在红外激光加热条件下，将含硅样品和氟化剂进行氟化反应，能够实现微量含硅样品制备SiF气体来分析所述含硅样品中的硅同位素组成，且能够有效缩短氟化反应时间，提高分析效率。实施例的结果表明，在样品量大大减少的情况下(仅为传统方法中样品量的1/10左右)，本发明提供的方法与传统方法的精度相当，能够实现微量含硅样品中硅同位素组成的准确分析。

申请人：中国地质科学院矿产资源研究所

地址：100000 北京市西城区百万庄大街26号

国籍：CN

代理机构：北京高沃律师事务所

代理人：代芳

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