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一种平面栅IGBT及其制作方法[发明专利]

来源:华佗小知识
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种平面栅IGBT及其制作方法专利类型:发明专利

发明人:张金平,张玉蒙,田丰境,刘竞秀,李泽宏,任敏,张波申请号:CN201610414414.8申请日:20160613公开号:CN105932050A公开日:20160907

摘要:一种平面栅IGBT及其制作方法,属于功率半导体器件技术领域。本发明在传统平面栅IGBT器件结构的基础上,在器件JFET区表面的部分区域引入浮空p型区,所述浮空p型区与栅电极在垂直于MOS沟道长度方向形成间隔分布,器件正向导通时在JFET区通过垂直于MOS沟道长度方向上从栅极往浮空p型区方向的横向载流子扩散,本发明结构在不影响器件正向导通特性的条件下,减小了器件的栅极电容,特别是栅极‑集电极电容,提高了器件的开关速度,降低了器件的开关损耗,同时不会使器件的阻断特性劣化。

申请人:电子科技大学

地址:611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

国籍:CN

代理机构:成都点睛专利代理事务所(普通合伙)

代理人:葛启函

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