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专利名称：半导体集成电路及其测试方法专利类型：发明专利发明人：山口恒太
申请号：CN200710142093.1申请日：20070827公开号：CN101131999A公开日：20080227
摘要：本发明提供了一种半导体集成电路及其测试方法。编程电路在第一编程单元被编程时激活通过信号。当内部电路的测试通过时，第一编程单元被编程。通过外部控制，模式设置电路将运行模式转换为正常运行模式或者测试模式。当通过信号在正常运行模式期间被失活时，状态机允许内部电路的部分电路执行不同于正常操作的异常操作。通过在正常运行模式期间识别异常操作，可以容易地识别出半导体集成电路是坏的。由于无需转换到测试模式就可以识别失效，因此例如购买半导体集成电路的用户也可以容易地识别出失效。
申请人：富士通株式会社
地址：日本神奈川县
国籍：JP
代理机构：北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人：宋鹤
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