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专利名称：验证测试用ROM的方法专利类型：发明专利发明人：蒋英
申请号：CN200410015919.4申请日：20040117公开号：CN11795A公开日：20050720
摘要：本发明公开了一种验证测试用ROM的方法，利用本方法可提高验证测试用ROM的速度和正确性。在测试用ROM中预先分配四个存储单元，用来存储测试用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的补码，并令存储高位及高位的补码的两个存储单元的内容以及存储低位及低位的补码的两个存储单元的内容互补；编译验证程序并对其二进制代码求出测试用ROM的和；接着分别将其和的高位和低位存储于测试用ROM所分配的存储和的高位和低位的存储单元中，并分别将其补码存储于测试用ROM中所分配的存储和的高位和低位的补码的存储单元中；最后通过编译修改后的程序并对其二进制代码求和，利用求出的测试用ROM的和的正确值来判断测试用ROM的和是否改变，从而验证测试用ROM的内容是否正确。
申请人：上海华虹集成电路有限责任公司
地址：201203 上海市浦东张江碧波路572弄39号
国籍：CN
代理机构：上海浦一知识产权代理有限公司
代理人：丁纪铁
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