测量不良导体的线胀系数可以采用以下步骤：1.精密光学仪器测量：利用精密光学仪器，如干涉仪或光谱仪，可以精确测量材料的形变。通过在高温和低温下分别测量材料的长度变化，可以计算出线胀系数。
2.电测技术测量：电测技术是一种通过测量电阻随温度的变化来推算材料的线胀系数的技术。在实验中，将材料置于高温和低温环境中，并测量其电阻值的变化。根据电阻值的变化，可以计算出材料的线胀系数。
3.光杠杆原理测量：光杠杆是一种利用光学原理放大微小位移量的装置。通过将样品放置在光杠杆上，并测量在不同温度下样品的位移量，可以计算出样品的线胀系数。光杠杆具有较高的灵敏度和精度，能够有效地放大微小位移量，从而提高测量精度。
